Banca de DEFESA: ALINE DA SILVA OLIVEIRA

Uma banca de DEFESA de MESTRADO foi cadastrada pelo programa.
DISCENTE: ALINE DA SILVA OLIVEIRA
DATA: 28/05/2021
HORA: 13:30
LOCAL: https://meet.google.com/qzx-qzrg-jcs
TÍTULO: AVALIAÇÃO DA INFLUÊNCIA DE TRATAMENTOS SUPERFICIAIS NAS PROPRIEDADES ÓPTICAS E MICROESTRUTURAIS DE FILMES ABSORVEDORES DE Mo/SiO2 OBTIDOS VIA SPUTTERING
PALAVRAS-CHAVES: Energia Solar; Coletores Solares; Superfície Seletivas; Molibdênio; SiO2; Sputtering; Absortância.
PÁGINAS: 99
GRANDE ÁREA: Multidisciplinar
ÁREA: Fontes Alternativas de Energia
RESUMO: O desenvolvimento sustentável relaciona-se diretamente com as fontes de energias renováveis. Entre essas fontes está o Sol, do qual deriva praticamente toda a energia usada no planeta. A energia solar pode ser aproveitada para a geração de eletricidade através dos módulos fotovoltaicos ou em usinas térmicas, ou aproveitada diretamente para o aquecimento de água em coletores solares. O bom desempenho térmico de coletores solares depende da cobertura seletiva que recobre a placa absorvedora dos coletores, conhecidas como superfícies seletivas, que são materiais com alta capacidade de absorção de radiação solar e baixa emissão no infravermelho. Diversos materiais e configurações de camadas podem ser usadas na fabricação de superfícies seletivas. Este trabalho propõe a produção de superfícies seletivas em multicamadas de molibdênio e sílica (SiO2) afim de otimizar o desempenho térmico do sistema, comparando diferentes parâmetros na técnica de deposição de Sputtering e avaliando a influência do tipo de tratamento do substrato nesse desempenho. Os resultados obtidos na Espectrofotometria na Região do UV-Visível e Infravermelho Próximo mostraram que a absortância das superfícies é superior para filmes de Mo e Mo/SiO2 em superfícies eletropolidas em comparação com os tratamentos com ácido e hexano. A maior absortância atingida foi de 98,10% para um filme de Mo/SiO2. Os band gaps foram estimados pelo método de Tauc e assumiram valores de variando de 0,7 a 3,45 eV. Nas amostras eletropolidas foi determinada a existência de mais de um gap de energia que se relaciona com a maior absortância dessas amostras. A Espectroscopia no Infravermelho por Transformada de Fourier (FTIR) indicou a presença de resíduos dos materiais utilizados nos tratamentos superficiais dos substratos e bandas características da vibração de ligações de óxido de molibdênio, Cr2O3 proveniente da passivação química, e uma banda acentuada característica das ligações de SiO2. A difração de Raios X (DRX) exibiu picos característicos da fase de Mo metálico e de fases resultantes da ligação de Mo com Fe, Cr e Ni presentes no substrato de aço, sendo também verificado o comportamento amorfo da sílica depositada na forma de quartzo. Os resultados obtidos na Perfilometria Óptica indicam que a absortância das amostras é influenciada pela rugosidade dos substratos. As espessuras e a rugosidade dos filmes foram avaliadas através da Microscopia de Força Atômica (AFM), que determinou valores de espessura característicos de filmes finos.
MEMBROS DA BANCA:
Presidente - 1731152 - KELLY CRISTIANE GOMES DA SILVA
Interno - 1980960 - FLAVIA DE MEDEIROS AQUINO
Externo ao Programa - 1972401 - JOSE FELIX DA SILVA NETO
Externo à Instituição - Rodolfo Bezerra da Silva